怎樣解釋單光子在雙縫實驗中的干涉現象？難道非要假定一個光子同時通過兩個縫嗎？
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對於單光子雙縫實驗，我喜歡一個數學模型：波“載”粒子。假定光子不能獨立傳播，只能伴隨電磁場傳播。場強強的區域，光子出現機率大，場強弱的區域，光子出現機率小。確切地說，有可能光子出現機率與場強絕對值的平方成正比。
這個模型能解釋雙縫實驗的結果。
假設光源真地能被控製發射單光子(兩個光子同時存在於光源與探測屏之間的概率微乎其微)。對於單粒子，當然也要有場的傳播，由於光源與雙縫的距離基本相等，在雙縫處的場強基本相等，單粒子通過任何一個縫的機率相等。雙縫的另一邊是場強的迭加(干涉)。單粒子無論是通過哪一個縫，通過後，隨機傳播，但分布概率由場強決定。這樣單粒子發射得多了，就形成干涉條紋。這個模型可以解釋分別遮住一個縫的實驗結果：雙縫實驗結果不是分別單縫實驗結果的迭加。
這個模型不需要假定一個光子同時通過兩個縫。但假定伴隨場同時通過兩個縫隙。
電子，中子的單粒子雙縫實驗也有類似的現象。按照這個模型，也認為單粒子(電子，中子)的發射伴隨某種場。單粒子只通過雙縫中的一個，然後隨機傳播，分布概率由干涉場強決定。